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        ARS2000角分辨光譜儀

        簡要描述:ARS2000角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場測量光纖光譜儀,主要滿足客戶通過對光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實(shí)現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件客戶采用ARS實(shí)現(xiàn)光學(xué)元器件特定角度下透過率、反射率的過程控制測量。

        • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
        • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
        • 更新時(shí)間:2026-02-09
        • 訪  問  量:1624

        詳細(xì)介紹

        品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
        組件類別其他應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合

        ARS2000角分辨光譜儀

        ARS2000角分辨光譜儀

        ARS2000角分辨光譜儀 

        ARS2000 角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場測量光纖光譜儀,核心用于滿足納米光學(xué)材料及光學(xué)元器件的精準(zhǔn)檢測需求。它可實(shí)現(xiàn)光子晶體、超導(dǎo)材料等的反射率、透射率、吸收測量,助力晶體能帶與缺陷特性研究;同時(shí)適配薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件等的特定角度透反射過程控制測量,實(shí)用性廣泛。

        儀器配套手動式透反射測量支架,覆蓋 350nm~1050nm 光譜波段,支持 0°~120° 入射角度、8°~180° 接收角度的透射、反射及輻射光譜測量。內(nèi)部集成 ARM 嵌入式系統(tǒng)與 Uspectral Plus 軟件,可實(shí)現(xiàn)在線測量;同時(shí)配置 Windows 軟件,滿足專業(yè)光譜分析需求,操作靈活便捷。

         

        核心特點(diǎn)

        l    功能專業(yè):全面覆蓋輻射、透射、反射、散射等多種檢測需求,適配不同材料測試場景。

        l    使用便捷:體積小巧、性能穩(wěn)定,易維護(hù)、易存放、易操作,適配現(xiàn)場測量需求。

        l    軟件強(qiáng)大:配套功能完備的專業(yè)軟件包,同時(shí)支持嵌入式在線測量與 Windows 系統(tǒng)光譜分析。

        l    存儲靈活:可通過 USB 接口及時(shí)存儲測量數(shù)據(jù),保障數(shù)據(jù)不丟失。

         

        產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

        項(xiàng)目

        詳情

        產(chǎn)品型號

        ARS2000

        主機(jī)尺寸

        230x200x110 mm

        支架尺寸

        300x200x230 mm

        整機(jī)重量

        3.2kg

        光譜波段

        350nm~1050nm

        光纖配置

        600μm UV-VIS

        嵌入式主板

        Linux 系統(tǒng) QT 界面顯示

        屏幕

        7 寸顯示屏

        鎢燈光源

        5W

        光纖輸出接口

        SMA905

        積分時(shí)間

        8ms-1min

        入射角度

        0-120°

        接收角度

        8-180°

        角度分辨率

        0.1°

        載物臺高度

        0-5cm

        光斑直徑

        0.56cm

        控制軟件

        嵌入式 + Windows 軟件

        供電接口

        AC 220V

        定制服務(wù)

        可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)

         

        應(yīng)用領(lǐng)域

        l    納米光學(xué)材料研究:適用于光子晶體、超導(dǎo)材料等的反射率、透射率、吸收測量,助力晶體能帶、缺陷等特性研究。

        l    多場景材料測試:適配鍍膜材料、液晶顯示、傳感器器件制備、角度材料相關(guān)分析等領(lǐng)域。

        l    光學(xué)元器件檢測:用于薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件等特定角度下透過率、反射率的過程控制測量。

        ARS2000角分辨光譜儀 

        不同厚度的薄膜樣品角分辨折射光譜


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