您好！歡迎訪問上海攸亦光電科技有限公司網(wǎng)站！
全國(guó)服務(wù)咨詢熱線：
18861577951
18861577951
簡(jiǎn)要描述：DQplus 18位深制冷光譜儀是一款基于深度制冷檢測(cè)器的光譜儀，檢測(cè)器采用制冷設(shè)計(jì)，具備出色的動(dòng)態(tài)范圍和信噪比。可搭配激光器、鎢燈、氘燈等多種光源，搭建多樣化光譜測(cè)量系統(tǒng)，目前已廣泛應(yīng)用于科研實(shí)驗(yàn)、工業(yè)檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、材料分析、生物檢測(cè)等多個(gè)場(chǎng)景。
產(chǎn)品品牌：其他品牌廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2026-02-10訪 問 量：302詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
DQplus 18位深制冷光譜儀
DQplus 18位深制冷光譜儀
DQplus 是一款基于深度制冷檢測(cè)器的光譜儀，檢測(cè)器采用制冷設(shè)計(jì)，具備出色的動(dòng)態(tài)范圍和信噪比。可搭配激光器、鎢燈、氘燈等多種光源，搭建多樣化光譜測(cè)量系統(tǒng)，目前已廣泛應(yīng)用于科研實(shí)驗(yàn)、工業(yè)檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、材料分析、生物檢測(cè)等多個(gè)場(chǎng)景。
核心產(chǎn)品規(guī)格
關(guān)鍵配置
l 內(nèi)置 - 25℃深度制冷面陣檢測(cè)器，像元規(guī)格為 1024×64；
l 采用 C-T 光路設(shè)計(jì)，焦長(zhǎng) 100mm，支持 300g/l、600g/l、900g/l、1200g/l 多種光柵配置；
l 可按需配置 10um、25um、50um、100um、200um 狹縫，實(shí)現(xiàn)不同分辨率需求；
l 內(nèi)置長(zhǎng)波通濾光片和二階衍射濾光片，有效抑制雜散光，雜散光水平低于 0.3%；
l 配置 K-SMA905 光纖接口，提升光纖耦合效率和插拔一致性，可適配如海多芯密排集束光纖，光纖插拔強(qiáng)度一致性≤7%；
l 采用 18bit A/D 轉(zhuǎn)換，動(dòng)態(tài)范圍≥33000：1，信噪比≥1100：1；
l 配備 USB、串口多種通訊接口及 24PIN 交互接口，內(nèi)置專有 DAC 和 ADC，可實(shí)現(xiàn)配套光源的使能、強(qiáng)度控制及功率反饋；
l 內(nèi)置多個(gè)傳感器，軟件可實(shí)時(shí)監(jiān)控光學(xué)結(jié)構(gòu)和檢測(cè)器內(nèi)部溫度。
詳細(xì)參數(shù)表
參數(shù)類別 | 具體指標(biāo) |
型號(hào) | DQPlus |
AD 采樣 | 18bit |
CCD 讀出噪聲（最小積分時(shí)間，均方根） | ≤12 |
動(dòng)態(tài)范圍（最小積分時(shí)間，(飽和值 - 暗噪基線)/CCD 讀出噪聲標(biāo)準(zhǔn)差） | 33000:1 |
信噪比（參照如海企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)） | 1100:1 |
檢測(cè)器積分時(shí)間 | 8ms-30 min |
采集模式 | 單次、連續(xù)、軟件觸發(fā)、同步外觸發(fā)、異步復(fù)位外觸發(fā) |
響應(yīng)線性度（校準(zhǔn)前） | ≥98% |
光纖接口 | Key-SMA905 |
檢測(cè)器像元數(shù) | 1024x58 pixels |
雜散光 | <0.3% |
光纖插拔一致性 | ≤7% |
數(shù)據(jù)接口 | USB2.0、RS232 |
擴(kuò)展功能接口 | 24PIN |
重量 | 1.24kg |
尺寸 | 181x111.5x55 mm |
工作溫度 | 0℃~40℃ |
工作濕度 | 20%-85% |
預(yù)定制產(chǎn)品規(guī)格
型號(hào) | 光譜范圍（nm） | 光譜分辨率（nm） | ||
起始波長(zhǎng) - 截止波長(zhǎng) | 10um | 25um | 50um | |
DQPlus-350-1100 | 350-1100 | - | 1.60 | 2.20 |
DQPlus-795-1030 | 795-1030 | - | 0.60 | - |
DQPlus-790-930 | 790-930 | - | 0.50 | 0.80 |
DQPlus-535-625 | 535-625 | - | 0.25 | 0.35 |
DQPlus-200-970 | 200-970 | 1.30 | 1.80 | 2.20 |
DQPlus-650-800 | 650-800 | 0.30 | - | - |
定制說明
l 光譜實(shí)際分辨率不高于標(biāo)值的 120%；
l 可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等核心參數(shù)。
主要應(yīng)用領(lǐng)域
農(nóng)業(yè)領(lǐng)域：日光誘導(dǎo)葉綠素?zé)晒鈾z測(cè)
通過檢測(cè)植物熒光信號(hào)（SIF），評(píng)估光合作用效率和生產(chǎn)力，廣泛應(yīng)用于生態(tài)監(jiān)測(cè)、農(nóng)業(yè)評(píng)估、氣候變化研究、作物生長(zhǎng)監(jiān)測(cè)、植被遙感等場(chǎng)景。可為碳循環(huán)、能量平衡研究，以及氣候變化和生態(tài)保護(hù)提供重要數(shù)據(jù)支持，幫助研究人員評(píng)估作物生長(zhǎng)、預(yù)測(cè)產(chǎn)量，監(jiān)測(cè)環(huán)境脅迫影響。
太陽輻射和草地反射光譜
新能源領(lǐng)域：太陽能電池量子效率測(cè)量
測(cè)量太陽能電池外量子效率（EQE）、內(nèi)量子效率（IQE）、光譜響應(yīng)度、光致發(fā)光量子效率（PLQE）等關(guān)鍵參數(shù)，為太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制提供技術(shù)支撐。
鹽脅迫下 SIF 產(chǎn)率譜圖
珠寶檢測(cè)：寶石透過率 / 反射率測(cè)量
分析藍(lán)寶石、紅寶石等剛玉礦物的吸收譜線，憑借不同產(chǎn)地或深淺寶石的譜線差異，實(shí)現(xiàn)寶石產(chǎn)地來源判定。藍(lán)寶石的透過率光譜存在 Fe3?引起的 450nm 處粗吸收帶，且延伸至紅外區(qū)。
半導(dǎo)體制造：等離子體刻蝕終點(diǎn)檢測(cè)
基于光學(xué)發(fā)射光譜法（OES），實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)等離子體溫度、密度、化學(xué)成分變化，識(shí)別有害成分，優(yōu)化蝕刻工藝參數(shù)，確保蝕刻工藝的穩(wěn)定性、一致性及蝕刻效率和質(zhì)量，且不會(huì)對(duì)刻蝕過程產(chǎn)生擾動(dòng)。
材料分析：拉曼光譜檢測(cè)
作為便攜式拉曼光譜儀的核心組成部件，常規(guī)支持 785nm 和 532nm 激發(fā)配置，可用于化學(xué)品鑒別、分子結(jié)構(gòu)表征、成鍵效果分析、樣品環(huán)境及內(nèi)部應(yīng)力分布研究，尤其適用于碳材料（如石墨烯）的精準(zhǔn)表征。
(a) 單層石墨烯;(b)雙層石墨烯;(c)少層石墨烯
產(chǎn)品咨詢
掃一掃，關(guān)注微信
當(dāng)前位置：